| 분류 | 산업지원 |
|---|---|
| 기술명 | 수차 보정된 전자현미경을 이용한 원자구조 및 배열의 직접적인 관찰 기술 |
| 연구자 | 최시영 |
| 특허출원번호 | |
| 개요 | - 수차가 보정된 전자현미경을 이용한 최첨단 분석 기법의 활용
- 나노 단위에서의 원자 구조의 직접적인 관찰 - Biotechnology 및 Nanotechnology 분야에서의 각종 생체재료, 기능성 화장품, 인공 대체물질, 미세 구조물 등의 신물질의 개발 및 분석에 있어 필수적임 |
| 첨부파일 |  수차_보정된_전자현미경을_이용한_원자구조_및_배열의_직접적인_관찰.pdf (2.8M) [34] DATE : 2015-12-17 14:39:58 |
