분류
산업지원
기술명
주사탐침 현미경 응용 분석기술
연구자
허진희
특허출원번호
개요
박막 국부영역의 자기적/전기적 특성분석이나 원자배열 등에 의한 정량해석 기술
나노 공정으로 제작된 연약한 외팔보를 측정프로브로 사용
첨부파일
48-주사탐침 현미경 응용 분석기술.jpg (763.7K)
[35]
DATE : 2014-02-25 16:40:48