| 특허명 | 비파괴 검사를 위한 자기탐상 장치 및 이에 의한 비파괴 검사방법 |
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| 출원등록국 | 한국 |
| 출원번호 | 2010-0128232 |
| 출원일 | 2010-12-15 |
| 등록번호 | 1209451 |
| 등록일 | 2012-12-03 |
| 대표발명자 | 재료물성평가연구그룹 원순호 |
| 초록 | 배관의 형태에 구애받지 않고 비파괴 검사의 전반을 자동화하여 재현성을 확보하고 검사 방법을 자동화 시스템으로 수행할 수 있는 비파괴 검사를 위한 자기탐상 장치 및 그에 의한 검사방법을 제시한다. 그 장치 및 방법은 자기장을 부여하는 한 쌍의 탐상부 사이에 배치되어 자기장의 변화를 전압변화로 변환시키는 센서부에서 인식된 전압변화를 이용하여 자기탐상 장치를 제어하는 제어부를 구비하고, 이에 의해 검사를 수행한다. |
| 발명명칭 | 비파괴 검사를 위한 자기탐상 장치 및 이에 의한 비파괴 검사방법 |
| 출원인 | 한국기계연구원 |
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| 첨부파일 |
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