| 특허명 | 복합재 입자 분석방법, 복합재 입자 분산도 분석방법 및 복합재 입자 분산도 분석 시스템 |
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| 출원등록국 | 한국 |
| 출원번호 | 2018-0004597 |
| 출원일 | 2018-01-12 |
| 등록번호 | 2074330 |
| 등록일 | 2020-01-31 |
| 대표발명자 | 기능복합재료연구실 박병진 |
| 초록 | 본 발명은 복합재 입자 분석방법, 복합재 입자 분산도 분석방법 및 복합재 입자 분산도 분석 시스템 에 관한 것이고, 본 발명의 실시 예를 따르는 복합재 입자 분석방법은 입자 및 결함을 포함하는 부(附)부재가 분산되어 배치된 복합재의 조직이미지를 촬영하는 단계; 상기 복합재의 조직이미지를 촬영하는 단계에서 촬영된 상기 조직이미지로부터 그레이스케일 정보를 추출하고, 상기 그레이스케일 정보로부터 얻어진 그레이스케일 값의 크기를 기초로 자동으로 경계화(thresholding)하여 상기 조직이미지로부터 상기 부(附)부재 이미지를 구분하는 단계; 및 상기 조직이미지에서 구분된 상기 부(附)부재의 경계영역 및 중심영역의 그레이스케일 정보를 이용하여 상기 조직이미지를 분석함으로써 상기 복합재 내에 배치된 입자를 구분하는 단계를 포함한다. |
| 발명명칭 | 복합재 입자 분석방법, 복합재 입자 분산도 분석방법 및 복합재 입자 분산도 분석 시스템 |
| 출원인 | 한국기계연구원 |
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| 첨부파일 |
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